hatec ist Ihr Spezialist für das Handling von Elektronik Baugruppen und –Modulen im Backend der Elektronikfertigung. Wir bieten Systeme für das Testhandling bei Wärme, Kälte und Raumtemperatur.
Produktübersicht
• Temperiertes Testen und automatisches Handling
Handling von Baugruppen bei Wärme, Kälte und Raumtemperatur,
mit und ohne Gehäuse:
Funktionstest (FKT) und In Circuit Test (ICT) von
Flachbaugruppen
Ecktemperatur, Run In, Screening, Burn In:
Temperiertes Testen von Baugruppen mit
PTM Modulen.
• Automatisiertes Testen in der Serienproduktion
Module und Testzellen für das vollautomatische Handling von:
Flachbaugruppen
Gehäusten Baugruppen
• Manuelles Testen in der Fertigung
Adapterbau (Vacuum, Pneumatik, Manuell, Wechselsysteme) für
Flachbaugruppen: Testadapter aller Art für den
In Circuit und Funktionstest.
Gehäusten Baugruppen: Wechselkontaktierung für den
Funktionstest (FKT).
NEU von hatec
Temperiertes Testen von - 40°C bis + 180°C. Das von uns entwickelte Verfahren ist einzigartig und bietet folgende Merkmale:
- Kontrolliertes Temperieren
- Testen bei geregelter Umgebungstemperatur
- Prüfling wird nicht temperaturgeschockt
- Schnelle Linienumrüstung
- Geringer Energiebedarf
- Geringer Platzbedarf